熱門關鍵詞: 測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切
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弱吸收儀
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PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理:Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上,光吸收的存在將在樣品內部產生熱波,從而在樣品內部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應,當一束Probe beam(探測光)經過熱透鏡效應區域與pump光相交時,探測光在該焦點處波前發生畸變引起點衍射共路干涉,并產生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理。
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